機器利用
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近接場光学顕微分光装置
メーカー名 | 日本分光(株) |
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メーカー 商品名/型式 |
近接場顕微分光装置/NFS-230HKG |
性能・仕様 | ○近接場プローブタイプ:ファイバー開口型 ○近接場測定モード:イルミネーション‐コレックション、イルミネーション、コレクション ○近接場試料ステージ可動距離(測定時):XY 約50μm, Z 約15μm ○近接場試料ステージ分解能:約5nm ○最大試料サイズ:35×45×3mm ○レーザ:532nm 50mW ○CCD検出器 ○測定波長(波数)範囲:100~4000cm-1(ラマン),532~860nm (蛍光) |
用途 | 高空間分解能での蛍光スペクトルおよびラマンスペクトル測定 |
対象試料 | 固体(セラミックス、高分子材料等、レーザ照射により分解しない試料) |
利用料金 | 3,200円/時間 近接場測定の際には、近接場プローブをご持参ください。 |
機器利用 研修費 |
受講料4,000円 |
設置場所 | 神戸 |
注意事項 | |
設置年月 | 2013年3月 |
担当部署 | 材料・分析技術部 化学材料グループ |
業務コード | 3112143 |
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