機器利用
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薄膜(回転対陰極式)X線回折装置
メーカー名 | (株)リガク |
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メーカー 商品名/型式 |
SmartLab9kW 薄膜評価用試料水平型 |
性能・仕様 | 出力:45kV、200mA(9kW) ターゲット:銅 入射角光学系:Cross Beam Optics、Ge2結晶、スキャンモード:θs/θd連動、θs、θd単独:対称スキャン 微小入射角スキャン、インプレーンスキャン、ゴニオメータ半径:300mm |
用途 | 結晶試料の同定・定量分析および結晶性評価。平行ビームの特徴を活かした微小入射角光学系での深さ方向分析、インプレーン光学系での極薄膜の構造評価 |
対象試料 | セラミックス、金属、高分子材料 |
利用料金 | 3,500円/時間 |
機器利用 研修費 |
受講料4,000円 |
設置場所 | 神戸 |
注意事項 | 薄膜試料に限定 |
設置年月 | 2010年1月 |
担当部署 | 材料・分析技術部 無機材料グループ |
業務コード | 3111860 |
XRD、薄膜、斜入射、GIXD、エピタキシャル、配向、極点、pole figure、逆格子空間マッピング、RSM、高温、その場測定、応力